Étude de la fiabilité des transistors RF LDMOS de puissance en mode pulsé pour des applications hyperfréquences
- ISBN: 978-3-8417-9496-3
€ 92,90
Le "dessein de Dieu pour le monde" à l'heure des technologies de communication
- ISBN: 978-3-8417-9083-5
€ 69,00