Et méthode pseudo-temporelle de test industriel des dispositifs RF
- ISBN: 978-3-8417-8474-2
€ 59,00
Vers le test de composants bipolaires pour des applications spatiales
- ISBN: 978-613-1-56362-1
€ 59,00
Un test anticorruption relatif aux formes de corruption active, passive et protégée
- ISBN: 978-620-3-45809-1
€ 43,90