Etude des Performances et de la Fiabilité des Systèmes Multi-classes avec Rappel par les Réseaux de Petri Stochastiques

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Etude des mécanismes de dégradation des Transistors Bipolaires à Hétérojonction sur substrat InP destinés aux communications optiques

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Maitenance et fiabilité des équipements de cimenterie au niveau de l’atelier de broyage

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Cas d'étude : les mines souterraines

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Fonctionnant aux fréquences Millimétriques en Technologies CMOS Avancées

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Fiabilité fonctionnelle et mécanismes de dégradation des Triacs soumis aux chocs thermiques par di/dt à la fermeture

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