Retour

Résultats de recherche pour: "X号买卖网站✔️ rigebi.com ⭐ 小红书老号怎么吸粉"

Analyse de la productivité totale des banques de l'espace UEMOA
Analyse de la productivité totale des banques de l'espace UEMOA

Approche de l'efficience X

- ISBN: 978-3-8381-8327-5

€ 39,00
Une Vision Poétique de Lautréamont
Une Vision Poétique de Lautréamont

Lecture et Réception

- ISBN: 978-3-639-62105-1

€ 84,90
La méthode d’O.R
La méthode d’O.R

Généralisation de la division synthétique d’une fraction rationnelle P(x)/Q(x)

- ISBN: 978-613-1-58642-2

€ 35,90
Formation des microstructures de solidification d'alliages métalliques
Formation des microstructures de solidification d'alliages métalliques

Etude par imagerie X synchrotron

- ISBN: 978-613-1-54941-0

€ 69,00
Une modélisation des discontinuités géométriques et/ou matérielles
Une modélisation des discontinuités géométriques et/ou matérielles

par l’approche X-FEM/LSM

- ISBN: 978-3-8416-7841-6

€ 68,90
Modélisation thermodynamique des systèmes binaires et ternaires
Modélisation thermodynamique des systèmes binaires et ternaires

Les systèmes binaires Pb-X(X=Lu, Gd, Dy et Sc), Sn-X(X=Sc, Ho, Y, Mn et Ce) et systèmes ternaires Ce-Mn-Sn et Ho-Ni-Sn

- ISBN: 978-620-2-27592-7

€ 64,90
Etude de couches minces déposées par ablation laser
Etude de couches minces déposées par ablation laser

Manganites à magnétorésistance colossale (La0,6Y0,07Ca0,33MnO3-x)

- ISBN: 978-613-1-58284-4

€ 59,00
Phénomènes d'ordre-désordre dans les solides
Phénomènes d'ordre-désordre dans les solides

Apport des diffractions X et neutroniques

- ISBN: 978-613-1-56312-6

€ 39,00
Étude expérimentale des dégradations des transistors N-MOS
Étude expérimentale des dégradations des transistors N-MOS

induites par des radiations ionisantes (rayons X)

- ISBN: 978-3-659-55804-7

€ 86,90
Cristallographie
Cristallographie

Cristallographie géométrique et diffraction des rayons X

- ISBN: 978-620-3-44242-7

€ 43,90