


Étude de la fiabilité des transistors RF LDMOS de puissance en mode pulsé pour des applications hyperfréquences
- ISBN: 978-3-8417-9496-3
€ 92,90

Par une méthode d'évalutation orthophonique chez l'enfant sourd appareillé ou implanté
- ISBN: 978-3-8417-8600-5
€ 39,00