Assurance Durcissement par la Technique des Débits Commutés

Assurance Durcissement par la Technique des Débits Commutés

Évaluation de la dégradation à faible débit de dose des technologies bipolaires en environnement spatial

Editions universitaires europeennes ( 07.04.2011 )

€ 86,90

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Les composants bipolaires se dégradent plus lorsqu’ils sont soumis à un faible débit de dose (vitesse de dépôt de l’énergie lente) que lorsqu’ils sont soumis à un fort débit de dose (vitesse de dépôt de l’énergie rapide). Cela est problématique, car l’environnement spatial dans lequel évoluent les satellites utilisant des composants bipolaires est caractérisé par un faible débit de dose, et donc la dégradation de ces composants est maximale une fois en orbite. De tests sont prévus pour s’assurer de la fiabilité des composants bipolaires utilisés dans les applications spatiales: des tests en laboratoire au niveau du sol réalisés à fort débit de dose permettent de savoir si le composant est sensible à la dose (à la quantité d’énergie déposée) mais ils ne peuvent pas être utilisés pour connaître la tenue en dose des composants bipolaires destinés à un environnement spatial. Pour s’assurer de la fiabilité des composants bipolaires utilisés en environnement spatial il faut les tester à faible débit de dose, ou bien utiliser des tests accélérés permettant de reproduire au mieux les mécanismes se produisant lors d’un dépôt d’énergie lent.

Détails du livre:

ISBN-13:

978-613-1-56560-1

ISBN-10:

6131565600

EAN:

9786131565601

Langue du Livre:

Français

By (author) :

Yago GONZALEZ VELO

Nombre de pages:

176

Publié le:

07.04.2011

Catégorie:

Electronics, electro-technology, communications technology